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表面分析:SIMS

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表面分析:SIMSの詳細情報

二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。

- タイトル: 表面分析:SIMS
- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア
- 定価: 8500円
- 出版社: アグネス承風社

ご覧いただきありがとうございます。

透明のブックカバーを付けて使用しておりました。
そのまま付けて発送予定です。
20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。
中身は美品だと思います。
カテゴリー 本・雑誌・漫画>本>語学・辞書・学習参考書
商品の状態 目立った傷や汚れなし,細かな使用感・傷・汚れはあるが、目立たない
配送料の負担 送料込み(出品者負担)
配送の方法 ゆうゆうメルカリ便
発送元の地域 千葉県
発送までの日数 1~2日で発送
  • 表面分析:SIMS
  • Amazon.co.jp: 二次イオン質量分析法 第2版 (表面分析技術選書) : 公益
  • 表面分析のご案内 - YouTube
  • 表面分析技術入門:SIMSとISSの原理と応用をわかりやすく解説|Science

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